ATP!Info

Sechste Namur-Konferenz in China: Schwerpunkt „Integrated Engineering“

Shanghai | Die sechste Namur-Konferenz in China fand am 19. und 20. November 2014 in Shanghai statt. Die Zahl der 170 Teilnehmer zeigt die stetige Entwicklung der Namur in China. Zusätzlich zu Teilnehmern von Anwenderunternehmen der Prozessindustrie, Pressevertretern, Standardisierungsorganisationen waren auch Universitäten anwesend.

Die sechste Namur-Konferenz in China fand am 19. und 20. November 2014 in Shanghai statt. Bild: Namur Die sechste Namur-Konferenz in China fand am 19. und 20. November 2014 in Shanghai statt. Bild: Namur

Während der Konferenz stellten die Arbeitsgruppen die Ergebnisse ihrer Arbeit vor und der Sponsor hatte die Gelegenheit, seine Kompetenzen darzustellen. „Integrated Engineering“ wurde in der Konferenz tiefgreifend in verschiedenen Präsentationen von Anwenderunternehmen sowie des Sponsors besprochen, was den ganzen Lebenzyklus inkl. Engineering, Bau und Betrieb beinhaltete.

Die Organisatoren konnten Siemens als Partner und Sponsor für die Veranstaltung gewinnen, wobei Siemens schon in 2013 die Namur-Hauptsitzung in Deutschland gesponsort hatte. Siemens bietet als globales Unternehmen mit mehr als 160 Jahren Erfahrung mit seinem breiten Produktportfolio innovative Lösungskonzepte für den gesammten Lebenzyklus einer Anlage an.

Die Namur China Konferenz 2015 findet am 18. und 19. November 2015 statt. Der Sponsor wird Wago sein. Das Unternehmen hat seine Ursprünge in der elektrischen Federverbindungstechnik und ist in diesem Bereich in seiner über 60 Jahre dauernden Firmengeschichte zum Weltmarktführer aufgestiegen. Wago ist seit über 20 Jahren ebenfalls Anbieter von Automatisierungssystemen.

www.namur.net

 

Verwandte Themen
Fachkonferenz mit Fokus auf Industrial Analytics und Big Data in der Industrie weiter
VDMA: Neue Bundesregierung muss Infrastruktur flächendeckend ausbauen weiter
Neue große Nennweiten für Coriolis-Masse-Durchflussmessgeräte weiter
Erste Konnektivitätssoftware für die Gestaltung von IIoT-Systemen vorgestellt weiter
Hersteller kooperieren bei der Entwicklung von IIoT-Gateways weiter
White Paper über die Gestaltung und Entwicklung anwendernaher Bediensysteme weiter

Relevante Publikationen für Sie:

„Smarte“ Sensoren in der Feldebene Cover

„Smarte“ Sensoren in der Feldebene

Intelligente Überwachung von industriellen Anlagen
Thomas Glock/FZI Forschungszentrum Informatik / Martin Hillenbrand/FZI Forschungszentrum Informatik / Christoph Weiler/Siemens / Michael Hübner/Ruhr-Universität Bochum, FZI Forschungszentrum Informatik

mehr
Zuverlässigkeitsbewertung in frühen Entwicklungsphasen Cover

Zuverlässigkeitsbewertung in frühen Entwicklungsphasen

Ansatz basierend auf rigide definierten Softwarekomponenten
MICHAEL WEDEL/Universität Stuttgart

mehr
Zustandsüberwachung und Performanzprognose Cover

Zustandsüberwachung und Performanzprognose

Datenbasierte Verfahren für komplexe Industrieanlagen
Minjia Krüger/Universität Duisburg-Essen / Torsten Jeinsch/Universität Rostock / Peter Engel/PC-Soft / Steven X. Ding/Universität Duisburg-Essen / Adel Haghani/Universität Rostock

mehr