ATP!Info

Reaction Technology beschleunigt Automatisierung

Eggelsberg | Mit seiner Reaction Technology senkt B&R die Zykluszeiten in der Automatisierung auf 1 µ. Besonders zeitkritische Teilaufgaben lassen sich mit der neuen Technologie IEC-61131-kompatibel in Standard-Hardware realisieren und ermöglichen gleichzeitig eine Kostensenkung, da die Steuerung sparsamer dimensioniert werden kann.

Die Reaction Technology macht Zykluszeiten von 1 µ mit Standard-Technologien der X67-Serie möglich. (Bild: B&R) Die Reaction Technology macht Zykluszeiten von 1 µ mit Standard-Technologien der X67-Serie möglich. (Bild: B&R)

Mithilfe der neuen Technologie werden im Funktionsblock-Editor erstellte Programme direkt in I/O-Modulen der X20- und X67-Serie ausgeführt. Dadurch entfällt die interne Datenübertragung und die Reaktionszeiten sinken auf Werte bis 1 µ. Dazu nutzt B&R die Fähigkeit der Engineering-Umgebung Automation Studio 4 zur modulweisen Aufteilung der Software auf verteilte Hardware und Kapazitätsreserven der Logikbausteine in den Modulen. Dort können durch dynamisches Nachladen Bibliotheken von Funktionsblöcken hinterlegt werden. Wie der Befehlssatz eines Mikrocontrollers stehen die Bibliotheken zur lokalen Ausführung im I/O-Modul bereit. br-automation.com

Verwandte Themen
Die ganze Breite der PLT in einem Buch – das schafft keine Bibliothek! weiter
Großer Bedarf an Weiterbildung zu Blockchain und Künstlicher Intelligenz weiter
Training 4.0 - Innovative Seminare mit starkem Praxisbezug weiter
Sicherheit „on the Road again“ weiter
PROFINET I/O als Option für magnetisch-induktive Durchflussmessgeräte weiter
9. NAMUR-Konferenz in China rückt intelligente Fertigung in den Fokus weiter

Relevante Publikationen für Sie:

„Smarte“ Sensoren in der Feldebene Cover

„Smarte“ Sensoren in der Feldebene

Intelligente Überwachung von industriellen Anlagen
Thomas Glock/FZI Forschungszentrum Informatik / Martin Hillenbrand/FZI Forschungszentrum Informatik / Christoph Weiler/Siemens / Michael Hübner/Ruhr-Universität Bochum, FZI Forschungszentrum Informatik

mehr
µPlant: Modellfabrik für vernetzte heterogene Anlagen Cover

µPlant: Modellfabrik für vernetzte heterogene Anlagen

Automatisierungstechnische Konzeption und Realisierung
Andreas Kroll/Universität Kassel / Axel Dürrbaum/Universität Kassel / David arengas/Universität Kassel / Hassan al Mawla/Universität Kassel / Lars Kistner/Universität Kassel / Alexander Rehmer/Universität Kassel

mehr
Zuverlässigkeitsbewertung in frühen Entwicklungsphasen Cover

Zuverlässigkeitsbewertung in frühen Entwicklungsphasen

Ansatz basierend auf rigide definierten Softwarekomponenten
MICHAEL WEDEL/Universität Stuttgart

mehr