ATP!Info

Namur-Empfehlung NE 61 überarbeitet

"Datenblatt für Prozessanalysengeräte"

Beim Einsatz von Prozessanalysenmessgeräten müssen die technischen Daten beachtet werden, um sicherzustellen, dass das Gerät für die entsprechende Anwendung geeignet ist. Die nun überarbeitete Namur-Empfehlung NE 61 "Datenblatt für Prozessanalysengeräte" dient der einheitlichen Darstellung der technischen Daten von Prozessanalysenmessgeräten in der Herstellerdokumentation (Bedienungsanleitung, Datenblatt). Dies erlaubt dem PAT-Planer, auf Basis der Anforderungen der jeweiligen Anwendung, Gerätemodelle mit geeigneten technischen Daten zu finden. Liegen die technischen Daten eines Prozessanalysenmessgerätes nicht in dieser Form vor, so können sie durch den PAT-Planer beim Hersteller mit Hilfe des Datenblattes angefragt werden. Die Namur-Empfehlung erläutert zunächst die Begrifflichkeit der einzelnen technischen Daten wie zum Beispiel Kennlinienübereinstimmung, Hysterese, Wiederholgrenze, Drift und Nachweisgrenze. Auch die häufig verwechselten Begriffe Justierung und Kalibrierung werden erklärt. Der Anhang enthält das eigentliche Datenblatt, nach dessen Muster die technischen Daten anzugeben sind.

Die Empfehlung kann ab sofort bei der Geschäftsstelle der Namur bezogen werden.

Verwandte Themen
Überarbeitet: NA 163 ist neu erschienen weiter
9. NAMUR-Konferenz in China rückt intelligente Fertigung in den Fokus weiter
NAMUR-Hauptsitzung: Mastering the Digital Transformation of the Process Industry weiter
Rainer Oehlert neu im NAMUR-Vorstand weiter
NAMUR-Hauptsitzung: Vorläufiges Programm der Workshops und Vorträge online weiter
Überarbeitet: NAMUR Empfehlung 131 weiter

Relevante Publikationen für Sie:

„Smarte“ Sensoren in der Feldebene Cover

„Smarte“ Sensoren in der Feldebene

Intelligente Überwachung von industriellen Anlagen
Thomas Glock/FZI Forschungszentrum Informatik / Martin Hillenbrand/FZI Forschungszentrum Informatik / Christoph Weiler/Siemens / Michael Hübner/Ruhr-Universität Bochum, FZI Forschungszentrum Informatik

mehr
µPlant: Modellfabrik für vernetzte heterogene Anlagen Cover

µPlant: Modellfabrik für vernetzte heterogene Anlagen

Automatisierungstechnische Konzeption und Realisierung
Andreas Kroll/Universität Kassel / Axel Dürrbaum/Universität Kassel / David arengas/Universität Kassel / Hassan al Mawla/Universität Kassel / Lars Kistner/Universität Kassel / Alexander Rehmer/Universität Kassel

mehr
Zuverlässigkeitsbewertung in frühen Entwicklungsphasen Cover

Zuverlässigkeitsbewertung in frühen Entwicklungsphasen

Ansatz basierend auf rigide definierten Softwarekomponenten
MICHAEL WEDEL/Universität Stuttgart

mehr